クライアント様ニーズに応えるべく、先端評価・解析手法の開発を実施しています
開発例
- ・電流休止法抵抗解析による入出力計算
- ・四極セルによる抵抗分離手法
- ・各種抵抗の複合解析手法
- ・電子・イオン伝導度の分離手法(電極内)
- ・限界負荷率評価法(初期、劣化模擬)
- ・寿命予測シミュレーション法
- ・反応均一性シミュレーション
- ・安全性メカニズム解析に向けた独自試験法
- ・高精度電圧、電流測定によるメカニズム解明手法
- ・薄型(100〜20μm)断面拡大解析
電極断面方向の各深さにおけるSEI組成分析解析
- ●表面から数10μm〜100μmの深さ方向におけるSEI組成変化の解析に有効です。
- ・深さ方向におけるXPS測定により、電極均一性、反応均一性解析
- ・推定される劣化メカニズムから課題解決方向性をご提案
二次劣化と密接に関わる反応偏在を設計段階で捉える
●劣化に大きく影響している可能性もある、内部に潜む、見えない反応偏在を初期に捉えることで、性能改善や二次劣化抑止に向けての設計段階でのフィードバックも可能になります。