◆KRI独自の新規、簡易評価方法を提案。
磁石の配向度新規評価法 −簡便にかつ高精度で磁石の配向性の概要を掴む−
●磁石の結晶方位情報は、その性能を上げるためには必要不可欠である。
従来の電子後方散乱回折（EBSD）による結晶方位分布測定ではなく、簡便な配向度評価法を提案する。
世界初： Nd磁石超微細孔加工と、内部磁場測定 −内部磁場を直接測定、可視化を具現−
＜磁石内部磁場測定の背景＞
現在、Dy拡散磁石の減磁状態を正確に把握する等、磁石内部の減磁分布の把握が重要との認識が高まっている。
しかし従来内部磁場測定は、磁石表面の漏れ磁界を測定し、その値から分布を推測するという方法しかなかった。
今回Nd磁石の微細孔加工が可能となり、また世界最小サイズのホール素子の開発に伴い、直接磁石内部磁場の測定が可能になった。
