mm〜nmレベルまでの表面形態観察に適し、例えばナノ粒子や表面コート状態の観察に使用する。

固体中の微小部の元素組成・元素分布(表面数μm以内、分析面0.1μm以上)に適し、例えば金属腐食状態の観察や微小異物の元素分析に使用する。

極表面(数nm)での元素組成と化学状態分析に適し、例えば各種触媒やカーボンの表面状態分析に使用する。

無機物の結晶構造による同定やポリマーの結晶性解析に適し、例えば触媒など各種無機材料の結晶構造分析や異物の同定に使用する。

有機物の化合物構造分析に適し、例えばポリマーのユニット比やポリエチレンの分岐構造解析に使用する。

有機物の構造分析に適し(50μmまでの空間分解能でのマッピング付き)、例えば有機物の同定やポリマーの材質特定や劣化分析に使用する。

有機物・無機物・カーボンの構造分析に適し(1μmまでの空間分解能)、例えばカーボンの結晶構造や酸化チタンの構造分析、微小異物分析に使用する。

試料加熱時の微小熱変化測定に適し(吸熱、発熱：-100〜500℃)、例えばポリマーの熱物性(融解、ガラス転移、結晶化)測定や耐酸化性測定に使用する。

TG測定で発生するガスをオンラインで質量分析します。発生ガスの種類や量を温度変化に対してリアルタイムにモニターし、吸着水の揮発挙動や物質の熱分解挙動、表面修飾剤の量等の情報を得ることができます。

近赤外光の吸収スペクトルの測定は、OH基のピークを水のピークと分離して解析する際に有効です。中赤外光では、透過法、1回反射ATR法、拡散反射法の測定から、バルクや表面の結合情報を得ることができます。

JEOL GSX270 JEOL JNM-ECA400 溶液、固体での多核および二次元測定 低周波数核測定(溶液での73Ge・25Mg・47/49Ti等) DOSY：拡散係数測定による多成分系のスペクトル分離 ROSY：緩和時間測定による多成分系のスペクトル分離 広温度範囲の測定に対応(固体：-100℃〜100℃，溶液：-100℃〜180℃) 緩和時間測定、固体表面の結合状態解析、縮合や加水分解等の反応進行状況追跡、電池材料のLi状態解析など

微小な圧子を使い、負荷と押しこみ深さの関係をリアルタイムに計測し表面物性を評価できます。 金属材料、薄膜，表面処理層，微小電子部品，プラスチック、ゴム、セラミックスなど、あらゆる材料の表面物性評価が可能です。 ISO14577-1(計装化押し込み硬さ試験)におけるマルテンス硬さ、押し込み弾性率、仕事量、クリープ評価に対応しています。

ナノ粒子(0.6nm〜)分散液の粒径分布を動的光散乱法により測定します。また、同一分散液でゼータ電位測定を行うことも可能で、粒子の分散安定性の評価に活用できます。

粉体のBET比表面積、マイクロポア(0.4nm)〜メソポア領域の細孔分布をガス吸着法により測定します。N2、Ar、CO₂ガスの他、水蒸気吸着等温線の測定も可能です。

室温から200℃までの磁石特性を評価する最大8Teslaのパルス高磁場BHカーブトレーサです。公平中立の場で国際標準規格IEC、JIS規格に準拠した測定方法にて委託試験業務を実施しております。

試料を約60Hzの交流で振動させ、周囲に配置したJコイルで誘起する起電力を測定します。 　起電力と磁化との関係式を基に、磁気モーメントを検出します。磁化の感度が非常に高く、常磁性、反磁性、液体、紛体、薄膜など微小な試料測定が可能です。低温(液体窒素)〜900℃までの測定が可能です。

着磁された磁石の磁化状態を総磁束量という簡便な方法で測定します。 測定の際には、磁石のサイズに合うサーチコイルが必要となります。

先端に磁性コートしたプローブをサンプルに近づけることにより、磁気力と表面形状を検出することができます。 着磁した試料、脱磁した試料の磁区観察ができます。　 試料に磁場を印加して観察することも可能です。

電子銃に電界放射形電子銃を用いたSEMで電子ビームを7細く収束することが可能なため、非常に高分解での観察が可能となります。試料にもよりますが、最大20万倍くらいまで可能です。　併設のEDSで同時に元素分析も可能です。

熱電子銃を用いた汎用型のSEMです。 低真空モードもついており、高真空にもっていくことにより破損するおそれのある試料などの観察に向いています。 併設のEDSは大面積の検出器がついており、非常に感度良く元素を検出できます。

短波長で直進性のよいレーザーを試料に照射して反射する像を得ます。 結像位置にピンホールがあるため、散乱光の少ないコントラストの高い画像が得られます。高さごとの反射画像を積算するため、最終的に3D画像として画像を取得することが可能です。

通常の顕微鏡の接眼レンズの代わりに、カメラを搭載しモニタに拡大像を映し出します。高解像度、広視野の画像作製ができます。粒子解析などもできます。

厚さ100nm以下の薄く切った試料に電子線を透過させて、試料を透過、散乱した電子線情報により、試料情報を得ます。 微細組織観察に優れます。

固体・液体の試料から生じたラマン散乱光をスペクトルに分光して分析することができます。

微小な圧子を使い、負荷と押しこみ深さの関係をリアルタイムに計測し表面物性を評価できます。 金属材料、薄膜，表面処理層，微小電子部品，プラスチック、ゴム、セラミックスなど、あらゆる材料の表面物性評価が可能です。 ISO14577-1(計装化押し込み硬さ試験)におけるマルテンス硬さ、押し込み弾性率、仕事量、クリープ評価に対応しています。

物体に液滴を落着させ、接触角から濡れ性や親水性、疎水性などを評価することができます。表面改質、塗装、コーティング膜の評価などに使用されます。

溶液・ガス中の成分の定性・定量をppmレベルで行うことができます.

各成分を分離し、質量分析計で定性・定量を行います。気化しやすい化合物の同定・定量を高感度で行える分析手法です