X線CTによる内部構造解析
X線CTは前処理の必要はなく、非破壊で内部構造を3次元で解析できる有用な分析手法である。X線源や検出器の進歩は、μmレベルの高分解能とPCの能力向上から分単位の高速で高画質な像を提供できるようになった。また最先端の画像解析ソフトを駆使できれば、定量的な画像解析とシミュレーションやCADデータとの比較など様々なアウトプットが提供できるようになった。 例えば、プラスチック製品の成形時の欠陥をX線CT解析すれば、図1に示したように、3次元で大きさを区別して可視化することに加えて、欠陥数や体積などの定量的な情報を与えてくれる。 電池材料は複雑な構造を有するとともに破......
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